| 体系 |
外国の特許法・特許制度 |
| 用語 |
Full First Action Interview Pilot Program |
| 意味 |
フル・ファーストアクション・インタビュー・パイロット・プラグラム（Full First Action Interview Pilot Program）とは、米国特許出願の審査の実務で採用されたプログラムであって、第一回目の拒絶理由通知に先立って特許出願人の要請により先行技術の内容を開示するものをいいます。
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| 内容 |
①Full First Action Interview （ＦＡＩ）Pilot Programは、米国特許出願の実務において、第１回目の拒絶理由通知に先立って特許出願人に審査官と面接を受けることを保証するものです。
②審査官は先行技術調査を行い、関連する先行技術を引用するとともに拒絶理由を示す通知(communication)を行います。
③その通知の受領から３０日以内に特許出願人は審査官と面接をして補正案及び意見書案を提出します。
④審査官がそれらについて納得しないときには、特許出願人は第一回目の拒絶理由通知を受け取ります。
出典：米国特許庁ＨＰ
http://www.uspto.gov/patent/initiatives/first-action-interview/full-first-action-interview-pilot-program
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| 留意点 |
このプログラムと関連する制度として、ラボレーション・サーチ・パイロット(CPS)プログラムがあります。これは、二国の特許庁間で先行技術に関する情報を交換するものです。
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