パテントに関する専門用語
  

 No: 140    

特許分類検索/特許調査

体系 特許調査
用語

特許分類検索

意味  特許分類検索は、特許電子図書館の特許調査用ツールで、特許出願・実用新案登録出願(特許出願等という)に付与されたIPC・FI・Fターム等で検索を行います。

内容 @特許出願等の公報は、テキストによる方法又は特許分類による方法で検索できますが、本格的な特許調査では後者が推奨されます。予備検索としてテキストを使って特許分類を抽出するのも良い方法です。→特許分類表

A公報テキスト検索にも特許分類の入力欄がありますが、ヒットするのは特許出願等の公報発行時の特許分類です。特許分類検索は分類の変更にも対応します。

B代表的な特許分類はIPC・FI・Fタームですが、一部の特許出願等に付与されたファセット分類記号も使用可能です。

CIPC・FIは主に請求項を対象としますが、Fタームは実施例にも対応し、発明の目的等も技術的な観点として検索できます。両者の組み合わせも可能です。FI→Fタームの順に調べるのがお勧めです。→FIリスト

DFIはIPCを我国の特許出願等の実情に照らして細分化したものです。国内の特許出願等の場合はFIの方が有利です。

BIPDLのトップページ→特許・実用新案検索→特許分類検索の順に索引画面に入ります。→特許分類検索の検索画面

留意点  関連分野を漏れなく調べる方法→FIハンドブックの関連分野を参照。特許検索ポータルサイトの調査ツールを利用して分類相互の近縁度をチェック。
分類相互の関係を検索に利用する(特許調査入門P220)(同P217)、付加コードを利用する(同P192)

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